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 Effect of temperature on heavy ion-induced single event transient on 16-nm FinFET inverter chains 温度对16纳米FinFET逆变器链重离子诱导单事件瞬态的影响
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逆变器
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期刊：Chinese Physics B 作者：Li Cai; Yaqing Chi; Bing Ye; Yuzhu Liu; Z. T. He; et al 出版日期：2022-09-02 |
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