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![]() 质子辐照诱导的局部缺陷团簇对硅光电导半导体开关恢复时间和漏电流的影响
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期刊:AIP Advances 作者:John Keerthi Paul Bhamidipati; Gyanendra Bhattarai; Anthony N. Caruso 出版日期:2023-10-01 |
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