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![]() 在标准互补金属氧化物半导体中具有高压刺激和自适应锯齿消除的单芯片双向神经接口
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期刊:IEEE Journal of Solid-state Circuits 作者:John P. Uehlin; William Anthony Smith; Venkata Rajesh Pamula; Eric Pepin; Steve I. Perlmutter; et al 出版日期:2020-05-15 |
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