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 Accelerated degradation modeling and reliability assessment method considering random effects and multi-stress time factors 相关领域
可靠性（半导体）
可靠性工程
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计算机科学
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期刊：Reliability Engineering & System Safety 作者：Ruiliang Zhang; Chuanhai Chen; Shizhen Zhang; Tongtong Jin; Zhifeng Liu; et al 出版日期：2026-11-01 |
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