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  Critical Assessment of the High Carrier Mobility of Bilayer In2O3/IGZO Transistors and the Underlying Mechanisms 双层In2O3/IGZO晶体管高载流子迁移率及其机理的关键评价
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期刊：Advanced electronic materials 作者：Min Guo; Hai Ou; Dongyu Xie; Qiaoji Zhu; Mengye Wang; et al 出版日期：2023-01-19 |
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