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![]() 离子束栅脉冲技术增强EUV PR掩模SiON的刻蚀特性
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期刊:Scientific Reports 作者:Hae In Kwon; Yun Jong Jang; Kyoung Chan Kim; Hong Seong Gil; Ju Young Kim; et al 出版日期:2025-06-06 |
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