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 Finding the cause of degradation of low-temperature oxide thin-film transistors 寻找低温氧化物薄膜晶体管退化的原因
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期刊：Journal of the Korean Physical Society 作者：Ho-young Jeong; Seung‐Hee Nam; Kwon‐Shik Park; Hyun‐Chul Choi; Jin Jang 出版日期：2021-01-20 |
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