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[高分] 专利、报告等 Cross-sectional examination of surface layers on electropolished thin specimens
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项目 信息 题名 Cross-sectional examination of surface layers on electropolished thin specimens 作者 Y. Wakaki, Y. Otsuka, Z. Horita, M. Nishimura, T. Sano, Y. Murata, M. Nemoto 年份、页码 1990，323–326，共4页 文献类型 会议论文 会议 第25届美国微束分析学会年会，与第12届国际电子显微学大会同期举行 地点、时间 美国西雅图，1990年8月12—18日 |
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