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Fast mapping of absorbing defects in optical materials by full-field photothermal reflectance microscopy
全场光热反射显微镜快速绘制光学材料吸收缺陷
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期刊:Optics letters/Optics index 作者:Woo June Choi; Seon Young Ryu; Jun Ki Kim; Jae Young Kim; Dong Uk Kim; et al 出版日期:2013-11-15 |
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