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 Validation of van der Waals Interface for Enhanced Resistive Switching Performance in Memristor by Using Topotactic Phase Transition Material 相关领域
范德瓦尔斯力
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期刊：ACS Applied Electronic Materials 作者：Rui Su; Yuheng Deng; Weichao Jiang; Yufeng Duan; Runqing Zhang; et al 出版日期：2024-09-14 |
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