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Comparison of TEM specimen preparation of perovskite thin films by tripod polishing and conventional ion milling 相关领域
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期刊:Journal of Electron Microscopy 作者:E. Eberg; Å. F. Monsen; Thomas Tybell; Antonius T. J. van Helvoort; Randi Holmestad 出版日期:2008-09-24 |
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