| 标题 |
Research on IGBT Chip Bond Wire Lift-Off Fault Detection Method Based on Decoupling of Time Domain Reflective Signal Feature 基于时域反射信号特征解耦的IGBT芯片键合线剥离故障检测方法研究
相关领域
解耦(概率)
绝缘栅双极晶体管
Lift(数据挖掘)
炸薯条
时域
故障检测与隔离
电子工程
信号(编程语言)
特征(语言学)
计算机科学
工程类
电气工程
电压
执行机构
控制工程
哲学
数据挖掘
语言学
程序设计语言
计算机视觉
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:IEEE Transactions on Power Electronics 作者:Shu Cheng; Chang Liu; Weiyu Yuan; Chaoqun Xiang; Yusong Hu; et al 出版日期:2024-12-19 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)