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Toward understanding the impacts of dynamic Ron on the efficiency in GaN-based AC-DC flyback converter 了解动态Ron对GaN基AC-DC反激变换器效率的影响
相关领域
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期刊:Microelectronics Reliability 作者:Chih-Yao Chang; Hsiu-Fen HSIEH; Chih-Chao Ho; Tsai‐Fu Wu; Ming-Chang Tsou; et al 出版日期:2025-03-13 |
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