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  Characterizing the intrinsic properties of individual XFEL pulses via single-particle diffraction 通过单粒子衍射表征单个XFEL脉冲的本征性质
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期刊：Journal of Synchrotron Radiation 作者：Heemin Lee; Jaeyong Shin; Do Hyung Cho; Chulho Jung; Daeho Sung; et al 出版日期：2019-12-10 |
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