Automated defect inspection of LED chip using deep convolutional neural network

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标题	Automated defect inspection of LED chip using deep convolutional neural network 使用深度卷积神经网络自动化LED芯片缺陷检测相关领域卷积神经网络炸薯条计算机科学人工智能过程（计算）人工神经网络生产线深度学习模式识别（心理学）嵌入式系统工程类电信机械工程操作系统
网址	https://doi.org/10.1007/s10845-018-1415-x
DOI	10.1007/s10845-018-1415-x doi
其它	期刊：Journal of Intelligent Manufacturing 作者：Hui Lin; Bin Li; Xinggang Wang; Yufeng Shu; Shuanglong Niu 出版日期：2018-03-29
求助人	mo 在 2025-07-16 15:17:13 发布自江西，悬赏 10 积分
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