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[高分]
 A high-temperature superconducting compact Shanghai–Lanzhou electron beam ion trap for precision measurement of highly charged ions 相关领域
电子束离子阱
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期刊：Review of Scientific Instruments 作者：X Y Liu; X.P. Zhou; W. Q. Wen; Z Huang; H. B. Wang; et al 出版日期：2026-05-01 |
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