| 标题 |
 Rapid reflectance-anisotropy spectroscopy as an optical probe for real-time monitoring of thin film deposition 快速反射-各向异性光谱作为薄膜沉积实时监测的光学探针
相关领域
外延
各向异性
材料科学
反射率
曲面重建
沉积（地质）
放松（心理学）
光谱学
薄膜
振荡（细胞信号）
光电子学
光学
曲面（拓扑）
凝聚态物理
分析化学（期刊）
化学
纳米技术
物理
地质学
心理学
古生物学
社会心理学
生物化学
几何学
数学
图层（电子）
量子力学
色谱法
沉积物
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：AIP conference proceedings 作者：J. Ortega‐Gallegos; L. E. Guevara-Macías; A. Lastras‐Martínez; D. Ariza-Flores; R. E. Balderas‐Navarro; et al 出版日期：2018-01-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
gexzygg
shhoing
ceeray23
Criminology34
eric888
寻道图强
遇上就这样吧
无极微光
GingerF
晓奕
tuanheqi
何柯
今天任务完成了吗
浮游
flyingpig
jhgg8009
星星亮
guozizi
辛勤的诗柳
Hayat
MchemG
mmyhn
静寂焉
13221
皖公网安备34019202002308
