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 Thermally Robust AlScN Memristors With Thickness-Optimized Resistive Switching for Harsh Environment 相关领域
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期刊：IEEE Transactions on Electron Devices 作者：Dongsheng Cui; Ruidong Li; Yu Liu; Xiangxiang Gao; haidong Yuan; et al 出版日期：2026-01-01 |
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