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 Verification of SEU resistance in 65 nm high-performance SRAM with dual DICE interleaving and EDAC mitigation strategies 采用双骰子交错和EDAC缓解策略验证65 nm高性能SRAM中的SEU电阻
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期刊：Nuclear Science and Techniques 作者：Z. T. He; Shiwei Zhao; Tianqi Liu; Chang Cai; Xiao-Yu Yan; et al 出版日期：2021-12-01 |
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