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Resistivity Scaling Transition in Ultrathin Metal Film at Critical Thickness and Its Implication for the Transparent Conductor Applications 临界厚度超薄金属膜的电阻率标度转变及其在透明导体中的应用
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期刊:Advanced electronic materials 作者:Yung Woo Park; Changyeong Jeong; L. B. Guo 出版日期:2021-12-10 |
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