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标题
Advanced Method to Locate The Defect on Zener Diode to Avoid Cutting The Circuit in Failure Analysis
相关领域
齐纳二极管 二极管 电阻器 Clipper（电子） 材料科学 雪崩二极管 光电子学 计算机科学 电气工程 电压 工程类 击穿电压
网址
https://doi.org/10.1109/ipfa47161.2019.8984819
DOI
10.1109/ipfa47161.2019.8984819 doi
其它 期刊：
作者：Xuejian Qian; Tian Li; Gaojie Wen; Hao Zhang; Xiaocui Li
出版日期：2019-07-01
求助人
haha 在 2025-09-26 11:57:11 发布自浙江，悬赏 10 积分
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