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 Wafer defect detection based on improved YOLOv8 基于改进YOLOv8的晶圆缺陷检测
相关领域
薄脆饼
计算机科学
材料科学
光电子学
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期刊： 作者：J. Diao; Longchuan Zou; Guihong Zhang 出版日期：2024-07-05 |
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