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![]() 晶格缺陷工程通过顺电BaTiO3电介质实现性能增强的MoS2光电检测
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其它 |
期刊:ACS Nano 作者:Wan Zhang; Feng Qiu; Yong Li; Rui Zhang; Huan Liu; et al 出版日期:2021-07-20 |
求助人 |
秋凡波
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2025-08-05 02:19:51 发布,悬赏 10 积分
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