| 标题 |
High resolution X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) study of K2O–SiO2 glasses: Evidence for three types of O and at least two types of Si 相关领域
X射线光电子能谱
摩尔分数
谱线
硅酸盐
化学
氧气
分析化学(期刊)
物理化学
核磁共振
物理
有机化学
色谱法
天文
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)