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  Investigation of Electrically Active Defects in SiC Power Diodes Caused by Heavy Ion Irradiation 重离子辐照引起SiC功率二极管电活性缺陷的研究
相关领域
辐照
材料科学
二极管
光电子学
重离子
碳化硅
离子
功率（物理）
电气工程
核工程
物理
核物理学
工程类
量子力学
冶金
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期刊：IEEE Transactions on Nuclear Science 作者：N. Fur; Manuel Belanche; C. Martinella; Piyush Kumar; Marianne E. Bathen; et al 出版日期：2023-02-06 |
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