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 Quantification of Complex Defects in Magnetic Flux Leakage (MFL) Testing Using Gradient Gray Level Analysis Based on Least Square Approximation 基于最小二乘近似的梯度灰度分析漏磁检测中复杂缺陷的量化
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期刊：2022 IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference (I2MTC) 作者：Alimey Fred John; Haichao Yu; Libing Bai; Yuhua Cheng; Yonggang Wang; et al 出版日期：2019-05-01 |
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