标题 |
![]() 用负泊松方法研究FD-SOI MOSFET中的电子迁移率分布
相关领域
电子迁移率
绝缘体上的硅
MOSFET
材料科学
感应高电子迁移率晶体管
光电子学
晶体管
半导体
电子
凝聚态物理
平面的
泊松方程
半导体器件
硅
场效应晶体管
物理
纳米技术
图层(电子)
计算机科学
电压
计算机图形学(图像)
量子力学
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Solid-State Electronics 作者:Nima Dehdashti Akhavan; Gilberto A. Umana‐Membreno; Renjie Gu; J. Antoszewski; L. Faraone; et al 出版日期:2022-03-14 |
求助人 | |
下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|