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 Non-Simultaneous Triggering Induced Failure of CS-MCT Under Repetitive High-Current Pulse Condition 重复大电流脉冲条件下CS-MCT非同时触发诱发故障
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期刊：IEEE Transactions on Device and Materials Reliability 作者：Wanjun Chen; Huiling Zuo; Qijun Zhou; Wuhao Gao; Yun Xia; et al 出版日期：2020-01-14 |
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