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 虽然传统的校准光度立体方法假设光强度和传感器曝光是已知的或未知的，但在观察到的图像中是相同的，但由于单个灯泡的特性和对传感器的控制有限，这种假设在实际环境中很容易被打破。本文研究了观测图像中未知且可能不均匀的光强度和传感器曝光对基于光度立体的形状恢复的影响。这导致了“半校准”光度立体方法的发展，其中光线方向已知，但光线强度（和传感器曝光）未知。我们表明，半校准的光度立体图像变成了一个双线性问题，其一般形式很难求解，但在光度立体图像中，表面法线和光强度（或传感器曝光）存在独特的解决方案。我们进一步证明了该问题存在线性求解方法，并开发了高效稳定的求解方法。半校准光度立体在准确确定表面法线方面优于传统的校准光度立体立体，因为它放宽了已知光强比/传感器曝光的假设。实验结果表明，在实际环境中，与传统方法相比，半校准光度立体体的精度更高。 |
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