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 Influence of N2 Gas Flow on the Reliability of Indium Zinc Oxide Thin-Film Transistors 氮气流量对铟锌氧化物薄膜晶体管可靠性的影响
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期刊： 作者：Bin Wang; Feilian Chen; Guanming Zhu; Lung‐Chien Chen; Meng Zhang 出版日期：2024-07-15 |
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