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Comprehensive research on nitrided SiO2/SiC interfaces by high-temperature nitric oxide annealing formed on basal and non-basal planes 基面和非基面高温一氧化氮退火氮化SiO2/SiC界面的综合研究
相关领域
材料科学
渗氮
退火(玻璃)
光电子学
碳化硅
工程物理
晶体管
MOSFET
纳米技术
电气工程
冶金
工程类
电压
图层(电子)
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| 其它 |
期刊:Japanese Journal of Applied Physics 作者:Heiji Watanabe; Takuma Kobayashi; Hayato Iwamoto; Takato Nakanuma; Hirohisa Hirai; et al 出版日期:2024-12-17 |
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