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A 1.2 V Single Event Multinode Upset Tolerant RHSC 12T Memory Cell in 65-nm CMOS 相关领域
CMOS芯片
节点(物理)
计算机科学
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期刊:IEEE Transactions on Electron Devices 作者:Suraj Singh Dohar; R. K. Siddharth; M. H. Vasantha; Y.B. Nithin Kumar 出版日期:2023-12-21 |
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