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Length Scale and Dimensionality of Defects in Epitaxial SnTe Topological Crystalline Insulator Films |
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期刊:Advanced Materials Interfaces 作者:Omur E. Dagdeviren; Chao Zhou; Ke Zou; Georg H. Simon; Stephen D. Albright; et al 出版日期:2017-01-01 |
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(2025-6-4)