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![]() 氧化物上多晶硅载流子选择结的针孔密度和接触电阻率
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期刊:Applied Physics Letters 作者:Tobias Wietler; Dominic Tetzlaff; Jan Krügener; Michael Rienäcker; Felix Haase; et al 出版日期:2017-06-19 |
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