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 Experimental insights toward carrier localization in in-rich InGaAs/InP as candidate for SWIR detection: Microstructural analysis combined with optical investigation 作为SWIR探测候选物的富InGaAs/InP中载流子局域化的实验见解：微结构分析与光学研究相结合
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期刊：Materials Science in Semiconductor Processing 作者：Marwa Ben Arbia; İlkay Demir; Navpreet Kaur; F. Saidi; Dario Zappa; et al 出版日期：2022-10-09 |
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