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Assessment of the crystalline orientation of nanoscale semiconductor structures via atom probe tomography 通过原子探针层析成像评估纳米级半导体结构的晶体取向
相关领域
原子探针
纳米尺度
材料科学
半导体
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期刊:Applied Physics Letters 作者:J. Cañas; Adeline Grenier; Jean‐Luc Rouvière; Anjali Harikumar; Samba Ndiaye; et al 出版日期:2025-03-01 |
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