标题 |
![]() 通过原子探针层析成像评估纳米级半导体结构的晶体取向
相关领域
原子探针
纳米尺度
材料科学
半导体
方向(向量空间)
断层摄影术
Atom(片上系统)
结晶学
纳米技术
光电子学
光学
化学
几何学
物理
计算机科学
数学
透射电子显微镜
嵌入式系统
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Applied Physics Letters 作者:J. Cañas; Adeline Grenier; Jean‐Luc Rouvière; Anjali Harikumar; Samba Ndiaye; et al 出版日期:2025-03-01 |
求助人 | |
下载 | |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|