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 Comparison of the structural properties and electrical characteristics of Pr2O3, Nd2O3and Er2O3charge trapping layer memories Pr2O3、Nd2O3和Er2O3电荷俘获层存储器的结构和电学特性比较
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期刊：Semiconductor Science and Technology 作者：Tung-Ming Pan; Te-Yi Yu 出版日期：2009-08-25 |
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