| 标题 |
 Multiscale Modeling of Self-Heating-Induced and Deformation-Accelerated Dielectric Traps Impacting Critical Path of Dielectric Breakdown in 5-nm Stacked Nanosheet FET 影响5纳米堆叠纳米片FET介质击穿临界路径的自热诱导和变形加速介质陷阱的多尺度模拟
相关领域
电介质
材料科学
纳米片
变形（气象学）
介电强度
光电子学
电子工程
复合材料
纳米技术
工程类
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| 其它 |
期刊：IEEE Transactions on Electron Devices 作者：Vivek Kumar; Deepak K. Sharma; Sudeb Dasgupta; Arnab Datta 出版日期：2025-02-04 |
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(2025-6-4)
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