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Radiation Damage Study of a Silicon PIN Diode and Signal-to-Noise Ratio Measurement with a Proton Beam 硅PIN二极管的辐射损伤研究及质子束信噪比测量
相关领域
材料科学
二极管
硅
辐射
质子
梁(结构)
信号(编程语言)
辐射损伤
噪音(视频)
PIN二极管
光电子学
信噪比(成像)
半导体器件
光学
物理
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纳米技术
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图层(电子)
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期刊:Journal of the Korean Physical Society 作者:Y.I. Kim; H. J. Hyun; D. H. Kah; Hee-Dong Kang; H.J. Kim; et al 出版日期:2009-05-15 |
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