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![]() 用X射线显微计算机断层扫描分析富含鹰嘴豆的小麦粗面的质量和微观结构
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计算机断层摄影术
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X射线显微断层摄影术
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期刊:Journal of Cereal Science 作者:Obasi Ukpai Ukoji; Muhammad Mudassir Arif Chaudhry; Lindsey Boyd; Elaine Sopiwnyk; Jitendra Paliwal 出版日期:2024-08-22 |
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