| 标题 |
Unveiling Charge Compensation Effects in Na2O–Al2O3–SiO2 Melts: Atomic-Scale Mechanisms and Implications for Fluidity from AIMD Simulations 揭示Na2O-Al2O3-SiO2熔体中的电荷补偿效应:原子尺度机制和AIMD模拟对流动性的影响
相关领域
原子单位
材料科学
分析化学(期刊)
矿物学
化学
物理
环境化学
量子力学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:The Journal of Physical Chemistry C 作者:Longfei Gao; Xingchen Liu; Jin Bai; Lingxue Kong; Zongqing Bai; Wen Li 出版日期:2024-10-04 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|