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Dielectric Characterization of Single-Crystal LiF,CaF2,MgF2, BaF2, and SrF2 at Microwave Frequencyies | NIST
单晶LiF、CaF2、MgF2、BaF2和SrF2在微波频率下的介电特性
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期刊：Conference on Electrical Insulation and Dielectric Phenomena 作者：Richard G. Geyer; James Baker‐Jarvis; Jerzy Krupka 出版日期：2004-10-20 |
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