| 标题 |
Three-dimensional imaging of extended defects in 4H-SiC by optical second-harmonic generation and two-photon-excited photoluminescence 光学二次谐波和双光子激发光致发光对4H-SiC中扩展缺陷的三维成像
相关领域
二次谐波产生
光致发光
激发态
堆积
材料科学
二次谐波成像显微术
Crystal(编程语言)
光电子学
光学
原子物理学
核磁共振
物理
激光器
计算机科学
程序设计语言
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Applied Physics Express 作者:Ryohei Tanuma; Hidekazu Tsuchida 出版日期:2014-01-31 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|