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Switching Transient-Based Junction Temperature Estimation of SiC MOSFETs With Aging Compensation 基于开关瞬态的老化补偿SiC MOSFET结温估计
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期刊:IEEE Transactions on Power Electronics 作者:Masoud Farhadi; Rahman Sajadi; Bhanu Teja Vankayalapati; Bilal Akin 出版日期:2024-05-27 |
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