| 标题 |
Realizing Performance Balance by Band Offset and Defect Concentration Engineering in HfO x /ZrO y Self-Rectifying Memristor 相关领域
带偏移量
材料科学
偏移量(计算机科学)
光电子学
电子工程
记忆电阻器
宽禁带半导体
电气工程
计算机科学
工程类
带隙
价带
程序设计语言
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:IEEE Electron Device Letters 作者:Yu Zhang; Sheng‐Guang Ren; Wenbin Zuo; Yi-Bai Xue; Jiayi Sun; et al 出版日期:2025-06-09 |
| 求助人 | |
| 下载 | 暂无链接,等待应助者上传 |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|