| 标题 |
ToF-SIMS investigation with 18O isotopic tracer of the ion transport mechanisms in surface oxides on nickel-chromium and nickel-chromium-molybdenum alloys 相关领域
钝化
镍
铬
钼
合金
氧化物
无机化学
硫酸
扩散
二次离子质谱法
材料科学
扩散阻挡层
电化学
冶金
化学
离子
图层(电子)
电极
物理化学
纳米技术
物理
有机化学
热力学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Electrochimica Acta 作者:Antoine Seyeux; Zuocheng Wang; Sandrine Zanna; Charly Carrière; Dimitri Mercier; et al 出版日期:2022-07-05 |
| 求助人 | |
| 下载 | |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|