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 Non-destructive evaluation of thickness of material plates through Compton back-scattering technique using Si(Li) detector 使用Si（Li）探测器通过康普顿背散射技术无损评估材料板的厚度
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期刊：Radiation Physics and Chemistry 作者：Huỳnh Đình Chương; Nguyen Duy Thong; Vo Hoang Nguyen; Lê Hoàng Minh; Nguyễn Thị Trúc Linh; et al 出版日期：2022-01-18 |
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