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  Charge trapping in SiO2 substrate during electron beam deposition of CaF2 thin films of different thicknesses 电子束沉积不同厚度CaF2薄膜过程中SiO2衬底中的电荷俘获
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期刊：Optical Materials X 作者：Marina Romanova; Sergii Chertopalov; Yuri Dekhtyar; Ladislav Fekete; J. Lančok; et al 出版日期：2025-01-13 |
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