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Recent Advances in Gate Dielectrics for Enhanced Leakage Current Management and Device Performance
增强漏电流管理和器件性能的栅介质研究进展
相关领域
材料科学
泄漏(经济)
电介质
光电子学
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期刊:Transactions on Electrical and Electronic Materials/Transactions on electrical and electronic materials 作者:Yong Hoon Jeong; Jaewoong Cho; Duy Phong Pham; Junsin Yi 出版日期:2024-05-09 |
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